rohs檢測(cè)儀ROHS熒光光譜儀工廠

rohs檢測(cè)儀ROHS熒光光譜儀工廠，ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。

應(yīng)用領(lǐng)域：RoHS檢測(cè)分析（電子電器、塑膠塑料、涂料油墨、通訊線纜、手機(jī)配件、膠粘制品、皮革紡織、兒童玩具等）

儀器的保養(yǎng)和清潔

1、表面與外殼的清潔。儀器可用微濕的抹布進(jìn)行表面清潔，不可用堿性或酸性清潔劑，應(yīng)使用中性清潔劑

2、內(nèi)部與探測(cè)器的清潔，在清潔過(guò)程中，必須注意不要將異物掉入測(cè)試窗口中，測(cè)試窗口應(yīng)該保持清潔，同時(shí)不能使用硬物接觸測(cè)試窗口內(nèi)，防止損傷探測(cè)器窗口和X光管窗口。(探測(cè)器窗口和X光管窗口損壞將不予保修，并且更換價(jià)格昂貴。因此，在清潔和使用中一定要小心愛(ài)護(hù))。

3、開(kāi)合蓋子需要注意什么問(wèn)題儀器上禁止擺放茶杯，重物等與測(cè)試無(wú)關(guān)的物品，以免污染或損傷儀器。

工作原理：

X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：

Q=kE

式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

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