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攝像頭/高低溫沖擊測試箱 高低溫試驗箱

簡要描述:攝像頭/高低溫沖擊測試箱;試驗設(shè)備采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,即試驗箱由位于上部的高溫試驗箱,位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新日期:2024-10-08
  • 訪  問  量: 1917

詳細(xì)介紹

品牌高天/Gaotian適用領(lǐng)域化工
產(chǎn)地國產(chǎn)加工定制

攝像頭/高低溫沖擊測試箱試驗設(shè)備采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,即試驗箱由位于上部的高溫試驗箱,位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。

高低溫沖擊測試箱產(chǎn)品用途:適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校

 

攝像頭/高低溫沖擊測試箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫

GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第4部分:低溫試驗

GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第5部分:溫度沖擊試驗

GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法方法107溫度沖擊試驗

 

 

 

 

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